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              代工服務 OEM Service
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              公司先後從美國、日本、台灣引進具有行業先進水平的中測和成測測試設備,測試能力強,測試質量穩定可靠。測試能力覆蓋Analog、Digital、Mixed signal、Memory、RF、Power Drive等各類集成電路。可根據客戶要求開發測試程序,設計制作DUT板及探針卡,同時客戶也可以自己制作DUT板並到現場進行上機調試。

              測試項目:接觸測試、功耗測試、輸入漏電測試、輸出電平測試、全面的功能測試、全面的動態參數測試、模擬信號參數測試。


              測試機

              Teradyne J750測試系統    

              Chroma 3360D/P測試系統  

              V50測試系統  

              VTT-777測試系統 

              TQT-510測試系統


              分選機

              SYNAX-141/1211H、EPSON-NS5000、CTS8002P


              探針台

              UF200、P8、TZ-603B


              (1)晶圓測試

               晶圓測試能力:8000 片/月。

               可測試的晶圓尺寸有4”、5”、6”、8”,並且可提供晶圓mapping圖分BIN定義、離線打點(INK)功能。

              (2)成品測試

               IC成品測試能力:80KK  pcs/月。

               其中可測試的封裝形式有DIP、SOP、SSOP、TSSOP、SDIP、HSOP、SOT、QFP、LQFP、QSOP等。


              X-POWER-BY FNC V0.5.2 FROM ZZ58